text: 近場掃描光學顯微鏡 (NSOM/SNOM)是一個 顯微鏡 技術，用於結構調查，其利用漸逝波的特性打破遠場中繞射極限 。 在SNOM， 激發鐳射光透過一個直徑小於雷射波長的孔徑聚焦，從而在孔徑的遠端產生消逝場。 當樣品在短距離地在孔徑下掃描，光學解析度只跟孔徑的直徑有關。 此時，橫向解析度可達20 奈米、垂直解析度可達2-5 奈米。如光學顯微鏡、此機制可以用於研究的不同性質，例如 折射率、化學結構和侷域壓力。也可以研究在次波長解析度下的動態特性。NSOM/SNOM是一種掃描探針顯微鏡.
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metadata: 近場掃描光學顯微鏡
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