text: 標準測試資料格式簡稱STDF，泰瑞達公司首創，是一種通用的、適用於ATE行業使用的晶片測試結果記錄格式。STDF記錄結構.本節由以下內容構成：STDF記錄頭.每個STDF記錄從記錄頭部分開始，記錄頭中包含以下三個欄位：記錄型別和子型別.每個STDF記錄的頭部都包含一對欄位：REC_TYP和REC_SUB。每個REC_TYP用來標記一組相關的STDF記錄配型。每個REC_SUB用來唯一標記每個記錄型別。這樣設計允許資料分析程式輕鬆識別相關記錄組，同時為檔案中的每種型別的記錄提供唯一標識。所有小於 200 的 REC_TYP 和 REC_SUB 程式碼都保留供泰瑞達將來使用。 所有大於 200 的程式碼均可用於自定義應用程式。 程式碼都是十進位制值。 其使用的官方程式碼和文件列表由泰瑞達半導體 CIM 部門 (SCD) 維護。
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metadata.title: 標準測試資料格式
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