text: 粒度分析、粒度測量或簡稱粒度是確定固體粉末或液體樣品中顆粒的粒度範圍和平均粒度的技術程式或實驗室技術的統稱。粒度分析是粒子科學的一部分，其測定一般在粒子技術實驗室進行。其中粒度分析裡的粒度主要是指粒徑分佈。粒度測量通常是透過稱為粒度分析儀 (PSA) 的裝置實現的，這些裝置基於不同的技術，傳統的方法主要有篩分法、顯微鏡法，這些測試方法操作繁瑣、測試時間較長、不能線上測量等。鐳射粒度儀是目前用途最廣泛的一種，其中靜態光散射衍射粒度儀它的粒徑測量範圍廣、適用範圍廣泛、重現性好、測量速度快、操作方便且可實現線上測量，一次測量可以得出多種粒度資料，如體積平均粒徑、粒度曲線、區間粒度分佈和累計粒度分佈等。主要利用測量鐳射透過顆粒時的的光能分佈，然後反演算推出粒子粒度分佈。粒度分析儀主要是檢測粒徑分佈情況，而粒徑在化學、食品、礦業、林業、農業、保健品、製藥、能源和運輸行業裡有重要意義。常用粒度分析方法.傳統的顆粒粒度測量方法有篩分法、顯微鏡法、沉降法、光散射法、電感應法等，近代的方法有鐳射衍射法、鐳射散射法、光子相干光譜法、電子顯微鏡影象分析法、基於顆粒布朗運動的粒度測量法及質譜法等。目前屬於研究級的還有偏光顯微鏡，這種主要側重礦物的光學性質；還有金相顯微鏡鑑別和分析金屬內部結構組織的儀器。首先了解想測試的樣品是屬於什麼型別，對實驗方式有什麼特殊要求，例如不吸收X射線的物質無法使用X射線沉降法。另外還需要根據測試原理，實驗引數，以及顆粒尺寸之間的數學關係等。基於鐳射散射的粒度分析.基於光散射的粒度分析在許多領域都有廣泛的應用，一般光散射技術有兩個技術路徑，一個是鐳射靜態光散射粒度分析分析技術，一個是鐳射動態光散射粒度分析技術。動態光散射.動態鐳射散射法DLS方法以分析懸浮粒子在用鐳射照射時散射光的波動，以確定布朗運動的速度，然後可以使用斯托克斯-愛因斯坦關係獲得粒子的流體動力學尺寸。儘管 DLS 是確定許多奈米和生物材料系統尺寸分佈的有用方法，但它確實存在一些缺點。例如，DLS 是一種低解析度方法，不適合測量多分散樣品，而大顆粒的存在會影響尺寸精度。出現了其他散射技術，例如奈米粒子跟蹤分析(NTA)，它使用影象記錄透過散射來跟蹤單個粒子的運動。 NTA 還根據擴散係數測量粒子的流體動力學尺寸，但能夠克服 DLS 帶來的一些限制。靜態光散射/衍射.基於靜態光散射原理的鐳射粒度儀是顆粒測量領域應用最廣泛的儀器之一。是常用的粒度儀。其中真理光學團隊對測量的上限和下限都進行了研究，並將測量範圍拓展到0.015μm到3600μm。ACAD反常現象.2016年反演演算法中真理光學團隊張福根博士研究發現了愛裡斑的反常變化(Anomalous Change of Airy Disk，ACAD) ，顯示了透明的顆粒在某些特定粒徑值會因為其透明的屬性，散射角會出現反常現象。基於影象法的粒度分析.顆粒影象處理儀其中軟體是重要組成部分。工作原理.光學顯微鏡首先把待測顆粒放大，併成像在影象感測器上；感測器將光學影象轉換成數字訊號。計算機根據影象訊號，識別顆粒的邊緣，按照其平面投影面積，進行計算。對於非球形顆粒，實驗員可以根據自己的需要，選擇不用的等效粒徑，比如等效面積圓粒徑，等周長圓粒徑，等效長徑，等效短徑等等；比較靈活，另外圖象儀還可以測量顆粒的圓度。基於電阻法的粒度分析.透過小孔電阻原理，電阻法顆粒計數器來做粒度分析。
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