text: 三維結構照明顯微鏡是一個更高階的形式的 光學顯微鏡，它的解析度超過了阿貝顯微極限。 三維結構照明顯微鏡由Lukosz和Marchand1963年提出， 並由領導G.L.Gustafsson的一個小組和在加利福尼亞大學的John W. Sedat的發展。 商業版 應用精確度 作為"投資", 卡爾*蔡司 作為一個"ELYRA p. 1 PS。1"，以及透過 尼康 為"N-SIM" 提供。工作原理.三維結構照明顯微鏡的熒光激勵透過空間調製結構照明(通常形式的一線光柵)來實現。為此，要拍攝多張樣品的圖片，圖片通常相對上一張逐個移動，由此產生三維結構。然後可以從這些儲存的原始影象計算物件的影象物體頻率的疊加。 在條紋圖案的情況下，圖案的相位位置在至少5步的時段內移位。 由於條紋圖案僅在一個方向上被調製，因此必須在圖案的至少三個方向上記錄原始影象。 與2D SIM變體相比，3D SIM儲存整個體積的原始影象，並使用測量體積的影象來計算解析度增加的體積。 因此，微觀解析度可以在所有三個空間方向上加倍。
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metadata: 三維結構照明顯微鏡
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